耳反垂软骨底部皮标签基因查体通常不包括线粒体全长测序检测。耳反垂软骨底部皮标签基因查体主要是通过分析DNA中特定基因的序列变化来评估个体的遗传风险或特征。而线粒体全长测序检测则是对线粒体DNA的全长序列进行测序分析，用于研究线粒体的遗传变异和进化关系。这两种检测方法针对的对象和目的不同，因此在一般情况下不会同时包含在同一项基因查体中。