常染色体显性遗传性智力发育障碍是一种遗传性疾病，通常由基因突变引起。全外显子测序是一种全面的基因检查方法，可以检测所有外显子区域的基因序列，有助于发现患者体内可能存在的各种基因突变。 因此，对于常染色体显性遗传性智力发育障碍的基因检查，进行全外显子测序检测是更好的选择。全外显子测序可以更全面地分析患者的基因组，有助于准确诊断疾病，并为患者提供更精准