常染色体显性遗传性智力发育障碍33型是由基因突变引起的遗传性疾病，全外显子检测是一种全面的基因检查方法，可以检测基因组中所有外显子的突变，包括可能导致智力发育障碍的突变。相比于其他检测方法，全外显子检测可以更全面地检测基因突变，提高检测的准确性和可靠性，有助于准确诊断患者是否患有常染色体显性遗传性智力发育障碍33型。因此，在经济条件许可的情况下，选择全