X连锁智力发育障碍111型的致病基因鉴定通常采用全外显子测序（Whole Exome Sequencing, WES）或全基因组测序（Whole Genome Sequencing, WGS）等高通量基因筛查方法。这些方法可以对患者的整个基因组或外显子进行测序，从而帮助识别患者体内可能存在的致病基因突变。